工業(yè)內(nèi)窺鏡是檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部缺陷的常用儀器，不僅可以發(fā)現(xiàn)缺陷還可以對(duì)缺陷面積進(jìn)行測(cè)量,。早期的內(nèi)窺鏡沒(méi)有自己的測(cè)量系統(tǒng),，而是采用比較測(cè)量的方式,，根據(jù)已知尺寸參照物與被測(cè)缺陷的比對(duì)，估算被測(cè)缺陷的測(cè)量值,，測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性不高,。隨著測(cè)量技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在的電子內(nèi)窺鏡大都自帶測(cè)量系統(tǒng),，能夠比較準(zhǔn)確地測(cè)量缺陷面積,，而不再是根據(jù)參照物估算。
下面以韋林內(nèi)窺鏡的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)為例,，為您介紹缺陷面積的測(cè)量方法,。
下面以韋林內(nèi)窺鏡的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)為例,，為您介紹缺陷面積的測(cè)量方法,。
首先，要選擇正確的測(cè)量模式,。韋林內(nèi)窺鏡支持多種測(cè)量模式,，每種測(cè)量模式都有針對(duì)性的測(cè)量場(chǎng)景。例如：長(zhǎng)度,、面積,、深度、點(diǎn)到線,、多段等,，根據(jù)這些模式的名稱很容易判斷對(duì)應(yīng)的測(cè)量場(chǎng)景。針對(duì)有一定區(qū)域范圍的缺陷面積測(cè)量,，例如：腐蝕,、涂層脫落等，應(yīng)該選擇面積測(cè)量模式,。
其次,，實(shí)施測(cè)量操作。在檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)缺陷后,，要拍攝用于測(cè)量的檢測(cè)圖像,，拍攝時(shí)應(yīng)保持探頭平穩(wěn)，以保證圖像質(zhì)量；隨后可以在拍攝到的檢測(cè)圖像上,，采用移動(dòng)并設(shè)置光標(biāo)的方式,，用多個(gè)光標(biāo)包圍被測(cè)缺陷所在的區(qū)域，這個(gè)過(guò)程也稱為打點(diǎn),，即：用若干個(gè)點(diǎn)把被測(cè)缺陷圍起來(lái),，圍成一個(gè)封閉圖形；完成上述操作,，測(cè)量系統(tǒng)就可以給出被測(cè)缺陷的面積數(shù)值了,。
此外，要提醒您注意以下兩點(diǎn)：
1. 如果被測(cè)缺陷面積不在一個(gè)平面上,，而是成曲面分布,，這種情況可以通過(guò)曲面分割的方法"化曲為平"，即：將曲面分為若干個(gè)近似平面的小區(qū)域,，通過(guò)測(cè)量這若干個(gè)小區(qū)域的面積,，再進(jìn)行累加綜合，最終得到整個(gè)曲面缺陷的面積數(shù)值,。
1. 如果被測(cè)缺陷面積不在一個(gè)平面上,，而是成曲面分布,，這種情況可以通過(guò)曲面分割的方法"化曲為平"，即：將曲面分為若干個(gè)近似平面的小區(qū)域,，通過(guò)測(cè)量這若干個(gè)小區(qū)域的面積,，再進(jìn)行累加綜合，最終得到整個(gè)曲面缺陷的面積數(shù)值,。
2. 注意打點(diǎn)的正確性,。因?yàn)橄到y(tǒng)測(cè)算的面積值，是根據(jù)打點(diǎn)所圍成的區(qū)域來(lái)計(jì)算的,，如果打點(diǎn)位置選擇的不準(zhǔn)確,，自然無(wú)法得到正確的結(jié)果。為了做好這一環(huán)節(jié),，可以充分利用測(cè)量技術(shù)提供的驗(yàn)證手段,，例如韋林的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)，可以提供三維空間的輪廓視圖,，檢測(cè)人員可以從不同角度觀察打點(diǎn)位置是否恰當(dāng),，這對(duì)于提升測(cè)量結(jié)果的正確性是大有幫助的。
在工業(yè)檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)缺陷是比較常見(jiàn)的事情,，這本身也是檢測(cè)的一大目的,，通過(guò)進(jìn)一步測(cè)量缺陷，例如：裂紋的長(zhǎng)度,、涂層脫落的面積,、凹坑的深度等，可以讓檢測(cè)人員對(duì)缺陷有一個(gè)量化評(píng)估的過(guò)程,，比較客觀,，是對(duì)主觀評(píng)判的有力支持。更多關(guān)于內(nèi)窺檢測(cè)技術(shù)以及測(cè)量技術(shù)的信息,，歡迎咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司 http://www.everestbj.com,。
