孔探儀是工業(yè)內(nèi)窺鏡的別稱,，是一種通過細(xì)小孔洞對飛行器發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部進(jìn)行探查的檢測儀器,。3D測量技術(shù)是應(yīng)用于孔探儀上的先進(jìn)的缺陷測量技術(shù)，包括兩種：相位掃描三維立體測量技術(shù),、和雙物鏡三維立體測量技術(shù),。之所以先進(jìn)，因?yàn)閼?yīng)用于工業(yè)內(nèi)窺鏡的傳統(tǒng)測量技術(shù)本質(zhì)上都是在二維平面上的測量,，對于形態(tài)各異的缺陷,，二維測量顯然是不準(zhǔn)確的，而上述兩種3D測量技術(shù)是在三維空間測量,，通過三維坐標(biāo)點(diǎn)云的實(shí)時(shí)應(yīng)用,，從多角度檢查數(shù)據(jù)的正確性和測量光標(biāo)放的位置，從而保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性,。
不精準(zhǔn)的測量會(huì)造成不必要的停機(jī),、報(bào)廢，增加維護(hù)成本,，影響安全性和可靠性,。因此，操作者如何正確使用測量技術(shù)尤為重要,；只有保證檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性,，才能作出準(zhǔn)確的決策。下面北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司,，為您列舉一些3D測量技術(shù)的操作小竅門,，幫助您獲得精準(zhǔn)的測量結(jié)果,。
1. 為實(shí)際應(yīng)用選擇合適的測量技術(shù)、測量類型（也稱測量模式,，包括：長度,、面積、點(diǎn)到線,、深度等）,；
2. 確保測量鏡頭清潔并已牢固安裝到探頭上，如使用雙物鏡鏡頭,，測量前正確選擇序列號,，相位掃描三維立體測量鏡頭可自動(dòng)識別；
3. 測量前,、后,，使用由NIST認(rèn)證的校驗(yàn)?zāi)K進(jìn)行校驗(yàn)，確保測量準(zhǔn)確性,；
4. 使用雙物鏡三維立體測量在焦距范圍內(nèi)盡可能靠近目標(biāo)(低MTD值),，對小缺陷的測量通常更準(zhǔn)確，測量距離過遠(yuǎn)會(huì)造成測量不準(zhǔn)確,；
5. 注意測量時(shí)系統(tǒng)提示的測量警告,，可能是測量設(shè)置不當(dāng)或MTD值不符合要求；
6. 用三維點(diǎn)云圖確認(rèn)光標(biāo)位置,，光標(biāo)位置在二維圖像里很難確認(rèn),，在三維視圖中很明顯,；
7. 進(jìn)行深度/深度剖面測量時(shí),，用點(diǎn)云圖/深度剖面圖，測量結(jié)果清晰直觀,。如果無法獲取點(diǎn)云圖/深度剖面圖,，使探頭靠近測量區(qū)域或從其他角度捕捉圖像；
8. 測量缺陷深度時(shí)(如坑或凹陷)可用點(diǎn)云圖驗(yàn)證測量缺陷的最深點(diǎn)及測量參考面精確對準(zhǔn)的基準(zhǔn)面,；
9. 為獲得最佳測量數(shù)據(jù),，圖像采集期間盡量保持探頭靜止不動(dòng)。三維立體相位掃描測量時(shí),，需大量捕捉圖像信息,；
10. 雙物鏡三維立體測量通過調(diào)整圖像亮度和觀察角度來降低圖像反射；
11. 因觀察角度和光學(xué)變形,，二維圖像中,，實(shí)際被測物邊緣或直線經(jīng)常為彎曲。如相機(jī)一樣,，直接把三維測量的線投射到二維圖像上會(huì)顯示彎曲的線,。三維測量能準(zhǔn)確表示測量位置,。
以上介紹了兩種用于孔探儀的3D測量技術(shù)，以及獲得精準(zhǔn)測量結(jié)果的操作注意事項(xiàng),。相位掃描三維立體測量技術(shù),、和雙物鏡三維立體測量技術(shù)，都是名副其實(shí)的3D測量技術(shù),。這兩種技術(shù)的差異在于,， 前者是基于光柵相位調(diào)制技術(shù)的主動(dòng)3D測量技術(shù)，而后者則是在傳統(tǒng)雙物鏡測量技術(shù)上通過強(qiáng)大的軟件實(shí)現(xiàn)的3D測量技術(shù),；前者可以用一個(gè)鏡頭完成觀察和測量,，后者則需要在測量之前更換一次鏡頭。韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡MViQ系列產(chǎn)品支持這兩種測量技術(shù),，如果您有疑問,，可以咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司 http://www.everestbj.com。
